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以众科技
 
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关于以众
公司简介
      为积极响应国家政策推动研究机构及科技人员等创新主体加快科技成果转移转化,打通科技与经济结合的通道, 探索符合实际的成果转化途径,中国科学院高功率激光物理联合实验室成立了上海以众科技有限公司。 公司依托于实验室,拥有强大的技术团队和充足的技术储备,具备丰富的光机电一体化系统研制和高新技 术海外出口的经验。 公司将致力于在光机电系统,精密测量与控制,高精度元器件加工与检测等方面提供优质的方案与产品。 同时可提供定制化的光机系统设计、测量分析、安装调试,提供技术合作开发、工艺流程改进、技术诊断等服务。
低磁、真空洁净、高负载、长行程六维精密运动系统 尺寸:1200mm × 1000mm × 800mm 真空、低温一维圆弧运动系统 外形尺寸:1000mm × 600mm × 200mm 高真空、高分辨、高稳定性多维光学运动系统 外形尺寸:100mm × 60mm × 100mm

  数字面型检测仪是一种新型的高精度光学元件检测仪,其基本原理是基于非干涉相位恢复算法测量相位变化,进而实现光学元件、硅片、金属元件的面型检测或光学元件的相位透射率分布测量。这是首次将基于相位调制的波前恢复算法用于光学元件检测。
探测CCD像素尺寸 5.5 μm
光斑采样数 4096×4096
工作波长 632.8 nm
测量范围 λ/10 - 3λ (PV)
测量精度 1/10 λ (PV)
测量时间 < 20 s (GPU硬件加速)
测量口径 Φ50 - Φ100 mm
输出数据格式 txt/jpg/tif/bmp…
系统软件工作环境 可提供配套高性能工作站,达到最佳使用效果
工作环境 可用于车间等工程应用环境检测,可定制支撑装置
  • 测量精度高
  • 分辨高
  • 动态测量范围大
  • 硬件结构紧凑,无需参考光
  • 环境稳定性要求低
  • 适用特殊光学元件测量
  • 光学元件及金属元件面型检测
  • 非球面镜与自由曲面镜检测
  • 连续相位板与涡旋相位板检测
  • 光学元件透射率检测
 
 
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